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4200A-SCS半導體參數(shù)測試儀
推進大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。4200A-SCS 參數(shù)分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50%,從而實現(xiàn)****的測量和分析能力。此外,嵌入式測量專業(yè)知識提供****的測試指導,并讓您對*終結(jié)果充滿信息。
特點
使用吉時利*新的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數(shù)飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業(yè)**的 CVU 架構(gòu)中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。
特點
使用 4215-CVU 進行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設置,并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時輕松排除故障。
特點
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統(tǒng)實現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇,可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現(xiàn)場可安裝單元和可選的預放大器模塊,Keithley 可確保您獲得準確的低電流測量,而停機時間很少甚至沒有。
特點
4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統(tǒng)實現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇,可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現(xiàn)場可安裝單元和可選的預放大器模塊,Keithley 可確保您獲得準確的低電流測量,而停機時間很少甚至沒有。
特點
吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質(zhì)量的服務。 只需點擊一下或撥打一個電話即可獲得維修服務,在此過程中,無需報價或填寫采購單,也不會有審批延誤。
產(chǎn)品技術(shù)資料 | 型號 | 描述 | 價格 |
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4200A-SCS-PKA 高分辨率 IV 套件 |
4200A-SCS:參數(shù)分析儀主機 4201-SMU:兩個用于高容量設置的中間功率 SMU 4200-PA:一個預放大器 8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具 |
索取報價 |
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4200A-SCS-PKB 高分辨率 IV 和 CV 套件 |
4200A-SCS:參數(shù)分析儀主機 4201-SMU:兩個用于高容量設置的中間功率 SMU 4200-PA:一個預放大器 4215-CVU:一個高分辨率多頻 C-V 單元 8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具 |
索取報價 |
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4200A-SCS-PKC 高功率 IV 和 CV 套件 |
4200A-SCS:參數(shù)分析儀主機 4201-SMU:兩個用于高容量設置的中間功率 SMU 4211-SMU:兩個用于高容量設置的高功率 SMU 4200-PA:兩個預放大器 4215-CVU:一個高分辨率多頻 C-V 單元 8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具 |
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4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 |
用于使用**硅 CMOS 技術(shù)進行的復雜 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 套件包括:
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索取報價 |
生物傳感器或 bioFET 將對分析物的生物響應轉(zhuǎn)換為電信號。集成到 4200A-SCS 中的 Clarius 軟件包括一個用于測試 bioFET 的項目。以此為起點檢定生物傳感器的傳輸和輸出特性,并從這里展開工作。
使用 4215-CVU 模塊測量亞毫微微法拉電容。通過驅(qū)動 1 V AC,在測量 1 fF 電容器時,4215-CVU 的噪聲水平可低至 6 attofarad。這只是 Clarius 軟件隨附的用于測量電容和提取重要參數(shù)的數(shù)十種應用程序之一。
使用 4215-CVU 進行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量
進行*佳電容和交流阻抗測量
特點
通過**脈沖 I-V 檢定在測試中利用新技術(shù)。 4200A-SCS 為*新 NVRAM 技術(shù)提供支持和即用型測試,從浮動門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM,不一而足。 電流和電壓雙源和測量功能同時支持瞬態(tài)和 I-V 域檢定。
評估 MOSFET 設備的熱載波感應劣化
用于非易失內(nèi)存測試的單納秒脈沖解決方案
非易失內(nèi)存技術(shù)脈沖 I-V 檢定
采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術(shù)分析高電阻樣本的電容。 該技術(shù)可通過僅使用源測量單元 (SMU) 儀器實現(xiàn)應用,同時可與 4210-CVU 結(jié)合使用,執(zhí)行更高頻率測量。
4200A-SCS 參數(shù)分析儀可在高阻抗設備上執(zhí)行極低頻電容-電壓測量
簡化 MOSFET/MOSCAP 設備檢定的提示和技術(shù)
特點
當測試需要非常長的電纜或具有較高電容的夾具時,請使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測試站、探測器、開關(guān)矩陣或任何其他大型或復雜的測試儀?,F(xiàn)場可安裝版本使您無需將設備返回服務中心即可增加容量。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU,通過高測試連接電容進行穩(wěn)定的低電流測量